Stammdaten

Titel: An investigation of statistical measures for intensity comparison of process patterns in analog wafer test data
Beschreibung:
Schlagworte:
Typ: Angemeldeter Vortrag
Homepage: -
Veranstaltung: European Advanced Process Control and Manufacturing Conference (Villach)
Datum: 09.04.2019

Beteiligte

Zuordnung

Organisation Adresse
Fakultät für Technische Wissenschaften
 
Institut für Statistik
Universitätsstraße 65-67
9020  Klagenfurt am Wörthersee
Österreich
zur Organisation
Universitätsstraße 65-67
AT - 9020  Klagenfurt am Wörthersee

Kategorisierung

Sachgebiete
  • 502051 - Wirtschaftsstatistik
Forschungscluster Kein Forschungscluster ausgewählt
Vortragsfokus
  • Science to Science (Qualitätsindikator: I)
Klassifikationsraster der zugeordneten Organisationseinheiten:
TeilnehmerInnenkreis
  • Überwiegend international
Publiziert?
  • Nein
Arbeitsgruppen
  • Statistik für Halbleiter

Kooperationen

Keine Kooperationspartner ausgewählt