Vortrag: Statistical Modelling and Design for Quality Control and Reliability ...
Stammdaten
Titel: | Statistical Modelling and Design for Quality Control and Reliability Analysis in Power Semiconductor Manufacturing Processes |
Beschreibung: | |
Schlagworte: | Reliability Analysis, Statistical Quality Control |
Typ: | Vortrag auf Einladung |
Homepage: | - |
Veranstaltung: | DAGStat (LMU München) |
Datum: | 20.03.2019 |
Vortragsstatus: |
Beteiligte
Jürgen Pilz (intern) |
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Natalie Vollert
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Daniel Kurz
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Zuordnung
Organisation | Adresse | ||
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Fakultät für Technische Wissenschaften
Institut für Statistik
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AT - 9020 Klagenfurt am Wörthersee |
Kategorisierung
Sachgebiete | |
Forschungscluster | Kein Forschungscluster ausgewählt |
Vortragsfokus |
Klassifikationsraster der zugeordneten Organisationseinheiten:
|
TeilnehmerInnenkreis |
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Publiziert? |
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Keynote-Speaker |
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Arbeitsgruppen |
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Kooperationen
Keine Partnerorganisation ausgewählt
Forschungsaktivitäten
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