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Detecting Star Cracks in Topography Images of Specular Back Surfaces of Structured Wafers
Untertitel:
Kurzfassung:
Schlagworte:
Publikationstyp: Beitrag in Proceedings (Autorenschaft)
Art der Veröffentlichung Online Publikation
Erschienen in: 17th IEEE International Conference on Machine Learning and Applications
17th IEEE International Conference on Machine Learning and Applications
zur Publikation
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Erscheinungdatum: 01.12.2018
Titel der Serie: -
Bandnummer: -
Erstveröffentlichung: Ja
Version: -
Seite: -

Identifikatoren

ISBN:
  • 978-1-5386-6805-4
ISSN: -
DOI: -
AC-Nummer: -
Homepage: https://ieeexplore.ieee.org/document/8614092
Open Access
  • Kein Open-Access

Zuordnung

Organisation Adresse
Fakultät für Technische Wissenschaften
 
Institut für Statistik
Universitätsstraße 65-67
9020  Klagenfurt am Wörthersee
Österreich
zur Organisation
Universitätsstraße 65-67
AT - 9020  Klagenfurt am Wörthersee

Kategorisierung

Sachgebiete
  • 102019 - Machine Learning
  • 202028 - Mikroelektronik
Forschungscluster Kein Forschungscluster ausgewählt
Peer Reviewed
  • Ja
Publikationsfokus
  • Science to Science (Qualitätsindikator: n.a.)
Klassifikationsraster der zugeordneten Organisationseinheiten:
Arbeitsgruppen Keine Arbeitsgruppe ausgewählt

Kooperationen

Organisation Adresse
Infineon Technologies
Siemensstraße 2
9500  Villach
Österreich
Siemensstraße 2
AT - 9500  Villach

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