Publikation: Detecting Star Cracks in Topography Ima...

Stammdaten
Titel: Detecting Star Cracks in Topography Images of Specular Back Surfaces of Structured Wafers
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Kurzfassung:
Schlagworte:
Publikationstyp: Beitrag in Proceedings (Autorenschaft)
Erscheinungsdatum: 01.12.2018 (Online)
Erschienen in: 17th IEEE International Conference on Machine Learning and Applications
17th IEEE International Conference on Machine Learning and Applications
zur Publikation
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Titel der Serie: -
Bandnummer: -
Erstveröffentlichung: Ja
Version: -
Seite: -

Versionen
Keine Version vorhanden
Erscheinungsdatum: 01.12.2018
ISBN (e-book):
  • 978-1-5386-6805-4
eISSN: -
DOI: -
Homepage: https://ieeexplore.ieee.org/document/8614092
Open Access
  • Kein Open-Access

Zuordnung
Organisation Adresse
Fakultät für Technische Wissenschaften
  Institut für Statistik
Universitätsstraße 65-67
9020 Klagenfurt am Wörthersee
Österreich
   office.stat@aau.at
zur Organisation
Universitätsstraße 65-67
AT - 9020  Klagenfurt am Wörthersee

Kategorisierung
Sachgebiete
  • 102019 - Machine Learning
  • 202028 - Mikroelektronik
Forschungscluster Kein Forschungscluster ausgewählt
Peer Reviewed
  • Ja
Publikationsfokus
  • Science to Science (Qualitätsindikator: n.a.)
Klassifikationsraster der zugeordneten Organisationseinheiten:
Arbeitsgruppen Keine Arbeitsgruppe ausgewählt

Kooperationen
Organisation Adresse
Infineon Technologies Austria AG
Siemensstraße 2
9500 Villach
Österreich
Siemensstraße 2
AT - 9500  Villach

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