Publikation: Quantification and Prediction of Damage...

Stammdaten
Titel: Quantification and Prediction of Damage in SAM Images ofSemiconductor Devices
Untertitel:
Kurzfassung:
Schlagworte:
Publikationstyp: Beitrag in Sammelwerk (Autorenschaft)
Erscheinungsdatum: 15.08.2018 (Print)
Erschienen in: Springer International Publishing
Springer International Publishing
zur Publikation
 ( Springer Verlag GmbH; H. Mayr, J. Michael, F. Al Machot )
Titel der Serie: -
Bandnummer: -
Erstveröffentlichung: Ja
Seite: S. 490 - 496

Versionen
Keine Version vorhanden
Erscheinungsdatum: 15.08.2018
ISBN: -
ISSN: -
Homepage: -

AutorInnen
Dzenana Alagic
Österreich
Forschungsaktivitäten
(extern)
Olivia Bluder
Österreich
Forschungsaktivitäten
(extern)
Jürgen Pilz
Juergen.Pilz@aau.at
Forschungsaktivitäten
zur Visitenkarte
(intern)

Zuordnung
Organisation Adresse
Fakultät für Technische Wissenschaften
  Institut für Statistik
Universitätsstraße 65-67
9020 Klagenfurt am Wörthersee
Österreich
   office.stat@aau.at
zur Organisation
Universitätsstraße 65-67
AT - 9020  Klagenfurt am Wörthersee

Kategorisierung
Sachgebiete
  • 502051 - Wirtschaftsstatistik
Forschungscluster Kein Forschungscluster ausgewählt
Peer Reviewed
  • Ja
Publikationsfokus
  • Science to Science (Qualitätsindikator: II)
Klassifikationsraster der zugeordneten Organisationseinheiten:
Arbeitsgruppen Keine Arbeitsgruppe ausgewählt

Kooperationen
Organisation Adresse
KAI Kompetenzzentrum für Automobil- und Industrie-Elektronik GmbH
Europastraße 8
9524 Villach-St. Magdalen
Österreich
Europastraße 8
AT - 9524  Villach-St. Magdalen

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