Publikation: Classifying Defects in Topography Image...
Stammdaten
| Titel: | Classifying Defects in Topography Images of Silicon Wafers |
| Untertitel: | |
| Kurzfassung: | |
| Schlagworte: |
| Publikationstyp: | Beitrag in Sammelwerk (Autorenschaft) |
| Erscheinungsdatum: | 01.12.2017 (Print) |
| Erschienen in: |
Proceedings of the 2017 Winter Simulation Conference
Proceedings of the 2017 Winter Simulation Conference
(
)
zur Publikation |
| Titel der Serie: | - |
| Bandnummer: | - |
| Erstveröffentlichung: | Ja |
| Seite: | S. 12 |
Versionen
| Keine Version vorhanden |
| Erscheinungsdatum: | 01.12.2017 |
| ISBN: | - |
| ISSN: | - |
| Homepage: | - |
Zuordnung
| Organisation | Adresse | ||
|---|---|---|---|
|
Fakultät für Technische Wissenschaften
Institut für Statistik
|
AT - 9020 Klagenfurt am Wörthersee |
Kategorisierung
| Sachgebiete | |
| Forschungscluster | Kein Forschungscluster ausgewählt |
| Peer Reviewed |
|
| Publikationsfokus |
Klassifikationsraster der zugeordneten Organisationseinheiten:
|
| Arbeitsgruppen |
|
Kooperationen
| Organisation | Adresse | ||
|---|---|---|---|
Infineon Technologies Austria AG
|
AT - 9500 Villach |
Forschungsaktivitäten
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