Publikation: An advanced area scaling approach for s...

Stammdaten
Titel: An advanced area scaling approach for semiconductor burn-in
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Kurzfassung:


Schlagworte:
Publikationstyp: Beitrag in Zeitschrift (Autorenschaft)
Erscheinungsdatum: 01.2015 (Print)
Erschienen in: Microelectronics Reliability
Microelectronics Reliability
zur Publikation
 ( Elsevier Science Inc.; )
Titel der Serie: -
Bandnummer: 55
Heftnummer: 1
Erstveröffentlichung: Ja
Version: -
Seite: S. 129 - 137

Versionen
Keine Version vorhanden
Erscheinungsdatum:
ISBN (e-book): -
eISSN: -
DOI: http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2014.09.007
Homepage: -
Open Access
  • Kein Open-Access
Erscheinungsdatum: 01.2015
ISBN: -
ISSN: -
Homepage: -

Zuordnung
Organisation Adresse
Fakultät für Technische Wissenschaften
  Institut für Statistik
Universitätsstraße 65-67
9020 Klagenfurt am Wörthersee
Österreich
   office.stat@aau.at
zur Organisation
Universitätsstraße 65-67
AT - 9020  Klagenfurt am Wörthersee

Kategorisierung
Sachgebiete
  • 101029 - Mathematische Statistik
Forschungscluster
  • Energiemanagement und -technik
Zitationsindex
  • Science Citation Index (SCI)
Informationen zum Zitationsindex: Master Journal List
Peer Reviewed
  • Ja
Publikationsfokus
  • Science to Science (Qualitätsindikator: I)
Klassifikationsraster der zugeordneten Organisationseinheiten:
Arbeitsgruppen
  • Statistik für Halbleiter

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