Stammdaten

Titel: An advanced area scaling approach for semiconductor burn-in
Untertitel:
Kurzfassung:


Schlagworte:
Publikationstyp: Beitrag in Zeitschrift (Autorenschaft)
Art der Veröffentlichung Printversion
Erschienen in: Microelectronics Reliability
Microelectronics Reliability
zur Publikation
 ( Elsevier Science Inc.; )
Erscheinungsdatum: 01.2015
Titel der Serie: -
Bandnummer: 55
Heftnummer: 1
Erstveröffentlichung: Ja
Seite: S. 129 - 137

Identifikatoren

ISBN: -
ISSN: -
DOI: http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2014.09.007
AC-Nummer: -
Homepage:
Open Access
  • Kein Open-Access

Zuordnung

Organisation Adresse
Fakultät für Technische Wissenschaften
 
Institut für Statistik
Universitätsstraße 65-67
9020  Klagenfurt am Wörthersee
Österreich
zur Organisation
Universitätsstraße 65-67
AT - 9020  Klagenfurt am Wörthersee

Kategorisierung

Sachgebiete
  • 101029 - Mathematische Statistik
Forschungscluster
  • Energiemanagement und -technik
Zitationsindex
  • Science Citation Index (SCI)
Informationen zum Zitationsindex: Master Journal List
Peer Reviewed
  • Ja
Publikationsfokus
  • Science to Science (Qualitätsindikator: I)
Klassifikationsraster der zugeordneten Organisationseinheiten:
Arbeitsgruppen
  • Statistik für Halbleiter

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