Publikation: Classifying Image Stacks of Specular Si...

Stammdaten
Titel: Classifying Image Stacks of Specular Silicon Wafer Back Surface Regions: Performance Comparison of CNNs and SVMs
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Schlagworte:
Publikationstyp: Beitrag in Zeitschrift (Autorenschaft)
Erscheinungsdatum: 02.05.2019 (Online)
Erschienen in: Sensors
Sensors
zur Publikation
 ( MDPI Publishing; )
Titel der Serie: -
Bandnummer: 19
Heftnummer: 9
Erstveröffentlichung: Ja
Version: -
Seite: S. 1 - 17

Versionen
Keine Version vorhanden
Erscheinungsdatum: 02.05.2019
ISBN (e-book): -
eISSN: -
DOI: -
Homepage: https://www.mdpi.com/1424-8220/19/9/2056
Open Access
  • Online verfügbar (Open Access)

Zuordnung
Organisation Adresse
Fakultät für Technische Wissenschaften
  Institut für Statistik
Universitätsstraße 65-67
9020 Klagenfurt am Wörthersee
Österreich
   office.stat@aau.at
zur Organisation
Universitätsstraße 65-67
AT - 9020  Klagenfurt am Wörthersee

Kategorisierung
Sachgebiete
  • 101018 - Statistik
  • 102003 - Bildverarbeitung
  • 102019 - Machine Learning
  • 202018 - Halbleiterelektronik
Forschungscluster Kein Forschungscluster ausgewählt
Zitationsindex
  • Science Citation Index (SCI)
Informationen zum Zitationsindex: Master Journal List
Peer Reviewed
  • Ja
Publikationsfokus
  • Science to Science (Qualitätsindikator: I)
Klassifikationsraster der zugeordneten Organisationseinheiten:
Arbeitsgruppen Keine Arbeitsgruppe ausgewählt

Kooperationen
Organisation Adresse
Infineon Technologies Austria AG
Siemensstraße 2
9500 Villach
Österreich
Siemensstraße 2
AT - 9500  Villach

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