Publikation: Failure probability estimation under ad...
Stammdaten
| Titel: | Failure probability estimation under additional subsystem information with application to semiconductor burn-in |
| Untertitel: | |
| Kurzfassung: | |
| Schlagworte: |
| Publikationstyp: | Beitrag in Zeitschrift (Autorenschaft) |
| Erscheinungsdatum: | 01.06.2017 (Print) |
| Erschienen in: |
Journal of Applied Statistics
Journal of Applied Statistics
(
Auerbach Publications / Taylor & Francis Group;
)
zur Publikation |
| Titel der Serie: | - |
| Bandnummer: | 44 |
| Heftnummer: | 6 |
| Erstveröffentlichung: | Ja |
| Seite: | S. 955 - 967 |
Versionen
| Keine Version vorhanden |
| Erscheinungsdatum: | 01.06.2017 |
| ISBN: | - |
| ISSN: | 0266-4763 |
| Homepage: | - |
Zuordnung
| Organisation | Adresse | ||
|---|---|---|---|
|
Fakultät für Technische Wissenschaften
Institut für Statistik
|
AT - 9020 Klagenfurt am Wörthersee |
Kategorisierung
| Sachgebiete | |
| Forschungscluster | Kein Forschungscluster ausgewählt |
| Zitationsindex |
Informationen zum Zitationsindex: Master Journal List
|
| Peer Reviewed |
|
| Publikationsfokus |
Klassifikationsraster der zugeordneten Organisationseinheiten:
|
| Arbeitsgruppen |
|
Kooperationen
Keine Partnerorganisation ausgewählt
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