Stammdaten

Titel: Failure probability estimation under additional subsystem information with application to semiconductor burn-in
Untertitel:
Kurzfassung:
Schlagworte:
Publikationstyp: Beitrag in Zeitschrift (Autorenschaft)
Art der Veröffentlichung Printversion
Erschienen in: Journal of Applied Statistics
Journal of Applied Statistics
zur Publikation
 ( Auerbach Publications / Taylor & Francis Group; )
Erscheinungsdatum: 01.06.2017
Titel der Serie: -
Bandnummer: 44
Heftnummer: 6
Erstveröffentlichung: Ja
Seite: S. 955 - 967

Identifikatoren

ISBN: -
ISSN: 0266-4763
DOI: -
AC-Nummer: -
Homepage:
Open Access
  • Kein Open-Access

Zuordnung

Organisation Adresse
Fakultät für Technische Wissenschaften
 
Institut für Statistik
Universitätsstraße 65-67
9020  Klagenfurt am Wörthersee
Österreich
zur Organisation
Universitätsstraße 65-67
AT - 9020  Klagenfurt am Wörthersee

Kategorisierung

Sachgebiete
  • 101029 - Mathematische Statistik
Forschungscluster Kein Forschungscluster ausgewählt
Zitationsindex
  • Science Citation Index Expanded (SCI Expanded)
Informationen zum Zitationsindex: Master Journal List
Peer Reviewed
  • Ja
Publikationsfokus
  • Science to Science (Qualitätsindikator: I)
Klassifikationsraster der zugeordneten Organisationseinheiten:
Arbeitsgruppen
  • Statistik für Halbleiter

Kooperationen

Keine Kooperationspartner ausgewählt

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