Publikation: Failure probability estimation under ad...
Stammdaten
Titel: | Failure probability estimation under additional subsystem information with application to semiconductor burn-in |
Untertitel: | |
Kurzfassung: | |
Schlagworte: |
Publikationstyp: | Beitrag in Zeitschrift (Autorenschaft) |
Erscheinungsdatum: | 01.06.2017 (Print) |
Erschienen in: |
Journal of Applied Statistics
Journal of Applied Statistics
(
Auerbach Publications / Taylor & Francis Group;
)
zur Publikation |
Titel der Serie: | - |
Bandnummer: | 44 |
Heftnummer: | 6 |
Erstveröffentlichung: | Ja |
Seite: | S. 955 - 967 |
Versionen
Keine Version vorhanden |
Erscheinungsdatum: | 01.06.2017 |
ISBN: | - |
ISSN: | 0266-4763 |
Homepage: | - |
Zuordnung
Organisation | Adresse | ||
---|---|---|---|
Fakultät für Technische Wissenschaften
Institut für Statistik
|
AT - 9020 Klagenfurt am Wörthersee |
Kategorisierung
Sachgebiete | |
Forschungscluster | Kein Forschungscluster ausgewählt |
Zitationsindex |
Informationen zum Zitationsindex: Master Journal List
|
Peer Reviewed |
|
Publikationsfokus |
Klassifikationsraster der zugeordneten Organisationseinheiten:
|
Arbeitsgruppen |
|
Kooperationen
Keine Partnerorganisation ausgewählt
Forschungsaktivitäten
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