Stammdaten

Titel: Dynamic Maintenance in semiconductor manufacturing using Bayesian networks
Untertitel:
Kurzfassung:
Schlagworte:
Publikationstyp: Beitrag in Sammelwerk (Autorenschaft)
Art der Veröffentlichung Printversion
Erschienen in: Proceedings CASE 2011
Proceedings CASE 2011
zur Publikation
 ( IEEE; Proceedings of IEEE Conference on Automation Science and Engineering (CASE) 2011 )
Erscheinungsdatum: 13.10.2011
Titel der Serie: -
Bandnummer: -
Erstveröffentlichung: Ja
Seite: S. 238 - 243

Identifikatoren

ISBN: -
ISSN: -
DOI: -
AC-Nummer: -
Homepage:
Open Access
  • Kein Open-Access

AutorInnen

Zuordnung

Organisation Adresse
Fakultät für Technische Wissenschaften
 
Institut für Statistik
Universitätsstraße 65-67
9020  Klagenfurt am Wörthersee
Österreich
zur Organisation
Universitätsstraße 65-67
AT - 9020  Klagenfurt am Wörthersee

Kategorisierung

Sachgebiete
  • 1113 - Mathematische Statistik
Forschungscluster Kein Forschungscluster ausgewählt
Peer Reviewed
  • Ja
Publikationsfokus
  • Science to Science (Qualitätsindikator: II)
Klassifikationsraster der zugeordneten Organisationseinheiten:
Arbeitsgruppen Keine Arbeitsgruppe ausgewählt

Kooperationen

Keine Kooperationspartner ausgewählt

Beiträge der Publikation

Keine verknüpften Publikationen vorhanden