Project: Automatische Klassifizierung von Defekt...

Master data
Automatische Klassifizierung von Defekten auf Wafern
Description:

Entwicklung von mathematisch-statistischen Methoden zur automatischen Erkennung von Defekten auf wafern und Implementierung der Algorithmen in Matlab
Keywords: Classification, Pattern recognition, Machine learning,
Short title: Defektklassifizierung/ADCW
Period: 01.01.2016 - 31.12.2018
Contact e-mail: juergen.pilz@aau.at
Homepage: -

Employees
Employees Role Time period
Jürgen Pilz
Juergen.Pilz@aau.at
Research activities
To visiting card
(internal)
  • Project leader
  • 01.01.2016 - 31.12.2018
Corinna Kofler
corinna.kofler@aau.at
Research activities
To visiting card
(internal)
  • PhD student
  • 01.01.2016 - 31.12.2018

Assignment
Organisational unit
Fakultät für Technische Wissenschaften
  Institut für Statistik
Universitätsstraße 65-67
9020 Klagenfurt am Wörthersee
Austria
   office.stat@aau.at
To organisation

Categorisation
Project type Grant-supported research
Funding type §27
Research type
  • Applied research
Subject areas
  • 101029 - Mathematical statistics
Research Cluster No research Research Cluster selected
Gender aspects Genderrelevance not selected
Project focus
  • Science to Professionals (Quality indicator: n.a.)
Classification raster of the assigned organisational units:
working groups
  • Spatial Statistics and Applications

Funding
Funding program
Infineon Technologies Austria AG
Organisation: Infineon Technologies Austria AG

Cooperations
Organisation Address
Infineon Technologies Austria AG
Siemensstraße 2
9500 Villach
Austria
Siemensstraße 2
AT - 9500  Villach