Projekt: Automatische Klassifizierung von Defekt...

Stammdaten
Automatische Klassifizierung von Defekten auf Wafern
Beschreibung:

Entwicklung von mathematisch-statistischen Methoden zur automatischen Erkennung von Defekten auf wafern und Implementierung der Algorithmen in Matlab
Schlagworte: Classification, Pattern recognition, Machine learning,
Kurztitel: Defektklassifizierung/ADCW
Zeitraum: 01.01.2016 - 31.12.2018
Kontakt-Email: juergen.pilz@aau.at
Homepage: -

MitarbeiterInnen
MitarbeiterInnen Funktion Zeitraum
Jürgen Pilz
Juergen.Pilz@aau.at
Forschungsaktivitäten
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(intern)
  • Projektleiter/in
  • 01.01.2016 - 31.12.2018
Corinna Kofler
corinna.kofler@aau.at
Forschungsaktivitäten
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(intern)
  • Dissertant/in
  • 01.01.2016 - 31.12.2018

Zuordnung
Organisationseinheit
Fakultät für Technische Wissenschaften
  Institut für Statistik
Universitätsstraße 65-67
9020 Klagenfurt am Wörthersee
Österreich
   office.stat@aau.at
zur Organisation

Kategorisierung
Projekttyp Auftragsforschung
Förderungstyp §27
Forschungstyp
  • Angewandte Forschung
Sachgebiete
  • 101029 - Mathematische Statistik
Forschungscluster Kein Forschungscluster ausgewählt
Genderrelevanz Genderrelevanz nicht ausgewählt
Projektfokus
  • Science to Professionals (Qualitätsindikator: n.a.)
Klassifikationsraster der zugeordneten Organisationseinheiten:
Arbeitsgruppen
  • Spatial Statistics and Applications

Finanzierung
Förderprogramm
Infineon Technologies Austria AG
Organisation: Infineon Technologies Austria AG

Kooperationen
Organisation Adresse
Infineon Technologies Austria AG
Siemensstraße 2
9500 Villach
Österreich
Siemensstraße 2
AT - 9500  Villach