Projekt: Automatische Klassifizierung von Defekt...
Stammdaten
Automatische Klassifizierung von Defekten auf Wafern | |
Beschreibung: | Entwicklung von mathematisch-statistischen Methoden zur automatischen Erkennung von Defekten auf wafern und Implementierung der Algorithmen in Matlab |
Schlagworte: | Classification, Pattern recognition, Machine learning, |
Kurztitel: | Defektklassifizierung/ADCW |
Zeitraum: | 01.01.2016 - 31.12.2018 |
Kontakt-Email: | juergen.pilz@aau.at |
Homepage: | - |
MitarbeiterInnen
MitarbeiterInnen | Funktion | Zeitraum |
---|---|---|
Jürgen Pilz (intern) |
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Corinna Kofler (intern) |
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Zuordnung
Organisationseinheit | ||
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Fakultät für Technische Wissenschaften
Institut für Statistik
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Kategorisierung
Projekttyp | Auftragsforschung |
Förderungstyp | §27 |
Forschungstyp |
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Sachgebiete | |
Forschungscluster | Kein Forschungscluster ausgewählt |
Genderrelevanz | Genderrelevanz nicht ausgewählt |
Projektfokus |
Klassifikationsraster der zugeordneten Organisationseinheiten:
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Arbeitsgruppen |
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Finanzierung
Förderprogramm | |||
---|---|---|---|
Infineon Technologies Austria AG
|
Kooperationen
Organisation | Adresse | ||
---|---|---|---|
Infineon Technologies Austria AG
|
AT - 9500 Villach |
Forschungsaktivitäten
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