Projekt: EPT300
Stammdaten
| EPT300 | |
| Beschreibung: | Entwickelt werden statistische Methoden und Verfahren zur Prozesskontrolle für die neue 300mm Wafer-Technologie zur Herstellung von Chips für die Automobil- und Industrieelektronik. |
| Schlagworte: | optimale Versuchsplanung, bayessche Statistik, statistische Prozesskontrolle |
| Kurztitel: | n.a. |
| Zeitraum: | 01.04.2012 - 08.11.2016 |
| Kontakt-Email: | - |
| Homepage: | - |
MitarbeiterInnen
| MitarbeiterInnen | Funktion | Zeitraum |
|---|---|---|
| Jürgen Pilz (intern) |
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| Daniel Kurz (intern) |
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Zuordnung
| Organisationseinheit | ||
|---|---|---|
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Fakultät für Technische Wissenschaften
Institut für Statistik
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Kategorisierung
| Projekttyp | Forschungsförderung (auf Antrag oder Ausschreibung) |
| Förderungstyp | §27 |
| Forschungstyp |
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| Sachgebiete | |
| Forschungscluster |
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| Genderrelevanz | Genderrelevanz nicht ausgewählt |
| Projektfokus |
Klassifikationsraster der zugeordneten Organisationseinheiten:
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| Arbeitsgruppen |
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Finanzierung
| Förderprogramm | |||
|---|---|---|---|
ENIAC JU
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| Österreichische Forschungsförderungsgesellschaft mbH (FFG) | |||
Infineon Technologies Austria AG
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Kooperationen
Forschungsaktivitäten
(Achtung: Externe Aktivitäten werden im Suchergebnis nicht mitangezeigt)
| Projekte | Keine verknüpften Projekte vorhanden |
| Publikationen |
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| Veranstaltungen | Keine verknüpften Veranstaltung vorhanden |
| Vorträge |
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