Projekt: EPT300
Stammdaten
EPT300 | |
Beschreibung: | Entwickelt werden statistische Methoden und Verfahren zur Prozesskontrolle für die neue 300mm Wafer-Technologie zur Herstellung von Chips für die Automobil- und Industrieelektronik. |
Schlagworte: | optimale Versuchsplanung, bayessche Statistik, statistische Prozesskontrolle |
Kurztitel: | n.a. |
Zeitraum: | 01.04.2012 - 08.11.2016 |
Kontakt-Email: | - |
Homepage: | - |
MitarbeiterInnen
MitarbeiterInnen | Funktion | Zeitraum |
---|---|---|
Jürgen Pilz (intern) |
|
|
Daniel Kurz (intern) |
|
|
Zuordnung
Organisationseinheit | ||
---|---|---|
Fakultät für Technische Wissenschaften
Institut für Statistik
|
Kategorisierung
Projekttyp | Forschungsförderung (auf Antrag oder Ausschreibung) |
Förderungstyp | §27 |
Forschungstyp |
|
Sachgebiete | |
Forschungscluster |
|
Genderrelevanz | Genderrelevanz nicht ausgewählt |
Projektfokus |
Klassifikationsraster der zugeordneten Organisationseinheiten:
|
Arbeitsgruppen |
|
Finanzierung
Förderprogramm | |||
---|---|---|---|
ENIAC JU
|
|||
Österreichische Forschungsförderungsgesellschaft mbH (FFG) | |||
Infineon Technologies Austria AG
|
Kooperationen
Forschungsaktivitäten
(Achtung: Externe Aktivitäten werden im Suchergebnis nicht mitangezeigt)
Projekte | Keine verknüpften Projekte vorhanden |
Publikationen |
|
Veranstaltungen | Keine verknüpften Veranstaltung vorhanden |
Vorträge |
|