Stammdaten

EPT300
Beschreibung:

Entwickelt werden statistische Methoden und Verfahren zur Prozesskontrolle für die neue 300mm Wafer-Technologie zur Herstellung von Chips für die Automobil- und Industrieelektronik.

Schlagworte: optimale Versuchsplanung, bayessche Statistik, statistische Prozesskontrolle
Kurztitel: n.a.
Zeitraum: 01.04.2012 - 08.11.2016
Kontakt-Email: -
Homepage: -

MitarbeiterInnen

MitarbeiterInnen Funktion Zeitraum
Jürgen Pilz (intern)
  • Projektleiter/in
  • 01.04.2012 - 08.11.2016
Daniel Kurz (intern)
  • wiss. Mitarbeiter/in
  • 01.04.2012 - 31.03.2015

Kategorisierung

Projekttyp Forschungsförderung (auf Antrag oder Ausschreibung)
Förderungstyp §27
Forschungstyp
  • Grundlagenforschung
  • Angewandte Forschung
Sachgebiete
  • 202028 - Mikroelektronik
Forschungscluster
  • Energiemanagement und -technik
Genderrelevanz Genderrelevanz nicht ausgewählt
Projektfokus
  • Science to Science (Qualitätsindikator: I)
Klassifikationsraster der zugeordneten Organisationseinheiten:
Arbeitsgruppen
  • Statistik für Halbleiter

Kooperationen

Keine Kooperationspartner ausgewählt